SJ 50033.44-1994 半导体分立器件2CZ105型硅开关整流二极管详细规范
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ID： |
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0.4 |
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8 |
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日期： |
2024-7-27 |
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SJ 中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033.44-94,半导体分立器件,2czl 05型硅开关整流二极管,详细规范,Semiconductor dicrete device,Detail pecification for type 2czi 05,ilicon witching rectifier diode,1994-0%30 发布 !994-12-01 实施,中华人民共和国电子工业部批准,中华人民共和国电子行业军用标准,半导体分立器件,2czi05型qe硅开关整流二极管,详细规范,Semiconductor dicrete device,Detail pecification for type 2czi05,ilicon witching rectifier diode,SJ 50033.44-94,1范围,1.I 主题内容,本规范规定了 2czi05型硅整流二极管（以下简称器件）的详细要求,1.2 适用范围,本规范适用于器件的研制、生产和采购,1.3 分类,本规范根据器件质量保证等级进行分类,1.3.I 器件的等极,按GJB 33（半导体分立器件总规范》L 3条的規定,提供的质量保证等级为普军、特军和超,特军三级,分别用字母GP、GT和GCT表示,2引用文件,GB 4023-86半导体分立器件第2部分整流二极管,GB 6571-86小功率信号二极管、稳压及基准电压二极管测试方法,GB 7581-87半导体分立器件外形尺寸,GJB 33—85 半导体分立器件总规范,GJB 128-86半导体分立器件试验方法,3要求,3.1 详细要求,各项要求应按GJB 33和本规范的规定,3.2 设计、结构和外形尺寸,设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定,3.2 .］引出端涂层,中华人民共和国电子工业部1994.09-3。发布 1994-12-01实施,—1 —,SJ 50033.44-94,引出端表面镀锡。对引出端涂层另有要求时,在合同或订货单中规定(见6.3条”,3.2.2 器件结构,器件采用玻璃钝化封装。在芯片两面和引出端之间采用高温冶金链合结构,3.2.3 外形尺寸,外形尺寸应符合GB 7581的D2 - 10A型及如下的规定。见图L,图1外形图,3.3 最大额定值和主要电特性,3.3.1 最大额定值,型号,Frsm,(V),^RWM,(V),び,Ta = 80t,(A),Jfsm,T 尸 25c,外二県WM,tp = 10m,(A),丁8,(V),ヘ,(V),低气压,(Pa),2CZ105B 75 50,0.5 10 -55-150 -55-175 1066.5,2CZ105C 15V 100,2CZ105D 300 200,2czl 雌450 300,2CZ105F 600 400,2CZ105G 750 500,2czi05H 900 600,2CZ1O5J 1050 700,2CZ105K 1200 800,-2 .,SJ 50033.44-94,注:1） T\>80じ时,按7.14mA/セ的速率线性降额,3.3.2主要电特性（7\ = 25匕）,型 号,VfMl,Ifm=1.5A,Ep== 10m,（V）,レ1 「,VrH Vrwm,（以）,Vr =,Ta = 125 じ,（糜）,1 IT,IF = 50mA,31OV,七二75n,最大值最大值最大值最大值,2CZ1O5B,1,8 50 50 3,2CZ105C,2CZ105D,1CZ105E,2CZ105F,2czi05G,2CZ105H,2CZ105J,2CZ105K,3.4电测试要求,电测试要求应符合GB 4023、GB 6571及本规范的规定,3.5标志,标志应符合GJB 33和本规范的规定。型号标志可不限于~行内,制造厂可省略下列标,志:,a.制造厂的识别;,b.检验批识别代码;,c,型号命名中的2c部分,3.5.1 极性标志,器件的负极端应采用鲜明的色带标记,以示出器件的极性,4质量保证规定,4.!抽样和检验,抽样和检验应按GJB 33和本规范的规定,4.2 鉴定检验,鉴定检验应按GJB 33的规定,4.3 筛选（仅对GT和GCT级）,筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1进行,超过本规范表1极,限值的器件应予剔除,3,SJ 50033.44-94,歸选(见GJB 33表2) 测试或试験,3.热冲击除低温为-55V外,其余同试验条件F,4,恒定加速度不豊求,5,密封不要求,7i中间电参数测试Vfmi 和,8.电老化TA = 25t ；o=0.5A VR= Vr,. /=50Hz 正弦半破,9a.最后测试本规范表1的A2分组1,4屈=初始值的100%或。.3RU取较大者;,"加=±0JV,4.4 质立 一致性检验,质量一致性检验应按GJB 33和本规范的规定,4.4.1 A组检验,A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行,4.4.2 B组检験,B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行。最后测试和变化量(△)的要求应按本,规范表4的相应歩骤的规定,4.4.3 C组检验,C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行。最后测试和变化量(△)的要求应按本,规范表4的相应步骤的规定,4.5 检验和试验方法,检验和试验方法应按本规范相应的表和如下规定:,4.5.I 稳态工作寿命,在器件的反向旅加规定的正弦半波峰值电压,接着在正向旅加规定的正弦半波平均整流,电流,整流电流的正向导通角应不大于1題0’,不小于!50\,4.5.2 脉冲测试,脉冲测试……
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